产品详情
赛默飞世尔科技的 Talos™ F200X 扫描 / 透射电子显微镜（S/TEM）提供最快速，最精确的纳米材料多维定量表征。由于配备了多种创新功能以提高效率、精度和使用便易度，Talos™ F200X 是学术、政府和工业等领域进行高级研究与分析的理想选择。
主要优势：
提供更优质的图像：同时进行多重信号探测的高效率 S/TEM 成像技术为高质量的图像提供了更好的图像对比度。快速获取化学成分数据：
快速，精确定量的 EDS 分析技术以揭示纳米级成分细节。
更多应用空间：利用专用的各种原位样品杆进行原位动态实验。